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    Titel:

    Advances in In Situ Ultra-High Vacuum Electron Microscopy: Growth of SiGe on Si

    Beteiligte:

    Tromp, R. M. (Autor:in) / Ross, F. M. (Autor:in)

    Erschienen in:

    ANNUAL REVIEW OF MATERIALS SCIENCE ; 30 ; 431-449

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2000

    Format / Umfang:

    19 pages

    ISSN:

    0084-6600

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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