Structural and Electrical Characterization of Ion Beam Synthesized and n-Doped SiC Layers: Fid-Bau Portal

Structural and Electrical Characterization of Ion Beam Synthesized and n-Doped SiC Layers

Serre, C. / Panknin, D. / Perez-Rodriguez, A. / Romano-Rodriguez, A. / Morante, J. R. / Kogler, R. / Skorupa, W. / Esteve, J. / Acero, M. C.

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Titel:

Structural and Electrical Characterization of Ion Beam Synthesized and n-Doped SiC Layers

Beteiligte:

Serre, C. (Autor:in) / Panknin, D. (Autor:in) / Perez-Rodriguez, A. (Autor:in) / Romano-Rodriguez, A. (Autor:in) / Morante, J. R. (Autor:in) / Kogler, R. (Autor:in) / Skorupa, W. (Autor:in) / Esteve, J. (Autor:in) / Acero, M. C. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 353/356 ; 591-594

Erscheinungsdatum:

01.01.2001

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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