Si:Er:O layers grown by molecular beam epitaxy: structural, electrical and optical properties: Fid-Bau Portal

Si:Er:O layers grown by molecular beam epitaxy: structural, electrical and optical properties

Scalese, S. / Franzo, G. / Mirabella, S. / Re, M. / Terrasi, A. / Priolo, F. / Rimini, E. / Carnera, A.

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Titel:

Si:Er:O layers grown by molecular beam epitaxy: structural, electrical and optical properties

Beteiligte:

Scalese, S. (Autor:in) / Franzo, G. (Autor:in) / Mirabella, S. (Autor:in) / Re, M. (Autor:in) / Terrasi, A. (Autor:in) / Priolo, F. (Autor:in) / Rimini, E. (Autor:in) / Carnera, A. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -LAUSANNE- B ; 81 ; 62 - 66

Erscheinungsdatum:

01.01.2001

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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