Quantum size effect in low energy electron diffraction of thin films: Fid-Bau Portal

Quantum size effect in low energy electron diffraction of thin films

Altman, M. S. / Chung, W. F. / He, Z. Q. / Poon, H. C. / Tong, S. Y.

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Titel:

Quantum size effect in low energy electron diffraction of thin films

Beteiligte:

Altman, M. S. (Autor:in) / Chung, W. F. (Autor:in) / He, Z. Q. (Autor:in) / Poon, H. C. (Autor:in) / Tong, S. Y. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 169-170 ; 82-87

Erscheinungsdatum:

01.01.2001

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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