Electron backscatter diffraction analysis of ZnO:Al thin films: Fid-Bau Portal

Electron backscatter diffraction analysis of ZnO:Al thin films

Garcia, C. B. / Ariza, E. / Tavares, C. J. / Villechaise, P.

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Titel:

Electron backscatter diffraction analysis of ZnO:Al thin films

Beteiligte:

Garcia, C. B. (Autor:in) / Ariza, E. (Autor:in) / Tavares, C. J. (Autor:in) / Villechaise, P. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 259 ; 590-595

Erscheinungsdatum:

01.01.2012

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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