Characterisation of nitride thin films by electron backscatter diffraction and electron channelling contrast imaging: Fid-Bau Portal

Characterisation of nitride thin films by electron backscatter diffraction and electron channelling contrast imaging

Trager-Cowan, C. / Sweeney, F. / Winkelmann, A. / Wilkinson, A. J. / Trimby, P. W. / Day, A. P. / Gholina, A. / Schmidt, N. H. / Parbrook, P. J. / Watson, I. M.

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Trager-Cowan, C. / Sweeney, F. / Winkelmann, A. / Wilkinson, A. J. / Trimby, P. W. / Day, A. P. / Gholina, A. / Schmidt, N. H. / Parbrook, P. J. / Watson, I. M.

Characterisation of nitride thin films by electron backscatter diffraction and electron channelling contrast imaging

Trager-Cowan, C. / Sweeney, F. / Winkelmann, A. / Wilkinson, A. J. / Trimby, P. W. / Day, A. P. / Gholina, A. / Schmidt, N. H. / Parbrook, P. J. / Watson, I. M.

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Titel:

Characterisation of nitride thin films by electron backscatter diffraction and electron channelling contrast imaging

Beteiligte:

Trager-Cowan, C. (Autor:in) / Sweeney, F. (Autor:in) / Winkelmann, A. (Autor:in) / Wilkinson, A. J. (Autor:in) / Trimby, P. W. (Autor:in) / Day, A. P. (Autor:in) / Gholina, A. (Autor:in) / Schmidt, N. H. (Autor:in) / Parbrook, P. J. (Autor:in) / Watson, I. M. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND TECHNOLOGY -LONDON- ; 22 ; 1352-1358

Erscheinungsdatum:

01.01.2006

Format / Umfang:

7 pages

ISSN:

0267-0836

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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