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Ellipsometric characterization of thin porous GaAs layers formed in HF solutions

Zangooie, S. / Woollam, J. A.

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Titel:

Ellipsometric characterization of thin porous GaAs layers formed in HF solutions

Beteiligte:

Zangooie, S. (Autor:in) / Woollam, J. A. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE LETTERS ; 19 ; 2171-2174

Erscheinungsdatum:

01.01.2000

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0261-8028

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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