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    Titel:

    Ellipsometric characterization of nanocrystals in porous silicon

    Beteiligte:

    Petrik, P. (Autor:in) / Fried, M. (Autor:in) / Vazsonyi, E. (Autor:in) / Lohner, T. (Autor:in) / Horvath, E. (Autor:in) / Polgar, O. (Autor:in) / Basa, P. (Autor:in) / Barsony, I. (Autor:in) / Gyulai, J. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 253 ; 200-203

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2006

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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