Hydrogen-related effects in GaInP/GaAs HBTs: incorporation, removal and influence on device reliability: Fid-Bau Portal

Hydrogen-related effects in GaInP/GaAs HBTs: incorporation, removal and influence on device reliability

Cassette, S. / Delage, S. L. / Chartier, E. / Floriot, D. / Poisson, M. A. / Garcia, J. C. / Grattepain, C. / Mimila Arroyo, J. / Plana, R. / Bland, S. W.

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Titel:

Hydrogen-related effects in GaInP/GaAs HBTs: incorporation, removal and influence on device reliability

Beteiligte:

Cassette, S. (Autor:in) / Delage, S. L. (Autor:in) / Chartier, E. (Autor:in) / Floriot, D. (Autor:in) / Poisson, M. A. (Autor:in) / Garcia, J. C. (Autor:in) / Grattepain, C. (Autor:in) / Mimila Arroyo, J. (Autor:in) / Plana, R. (Autor:in) / Bland, S. W. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -LAUSANNE- B ; 80 ; 279 - 283

Erscheinungsdatum:

01.01.2001

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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