Impedance spectroscopic analysis of forward biased metal oxide semiconductor tunnel diodes (MOSTD): Fid-Bau Portal

Impedance spectroscopic analysis of forward biased metal oxide semiconductor tunnel diodes (MOSTD)

Matsumura, M. / Hirose, Y.

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Titel:

Impedance spectroscopic analysis of forward biased metal oxide semiconductor tunnel diodes (MOSTD)

Beteiligte:

Matsumura, M. (Autor:in) / Hirose, Y. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 175-176 ; 740-745

Erscheinungsdatum:

01.01.2001

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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