Critical epitaxial film thickness for forming interface dislocations: Fid-Bau Portal

Critical epitaxial film thickness for forming interface dislocations

Lee, S. / Wang, S. D. / Hsueh, C. H.

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Titel:

Critical epitaxial film thickness for forming interface dislocations

Beteiligte:

Lee, S. (Autor:in) / Wang, S. D. (Autor:in) / Hsueh, C. H. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -LAUSANNE- A ; 309-310 ; 473-477

Erscheinungsdatum:

01.01.2001

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0921-5093

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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