Interface Defects of Al/GaAs(100) Detected by Positron Annihilation Induced Auger Electron Spectroscopy (PAES): Fid-Bau Portal

Interface Defects of Al/GaAs(100) Detected by Positron Annihilation Induced Auger Electron Spectroscopy (PAES)

Chen, W.-C. / Fazleev, N. G. / Fry, J. L. / Weiss, A. H.

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Titel:

Interface Defects of Al/GaAs(100) Detected by Positron Annihilation Induced Auger Electron Spectroscopy (PAES)

Beteiligte:

Chen, W.-C. (Autor:in) / Fazleev, N. G. (Autor:in) / Fry, J. L. (Autor:in) / Weiss, A. H. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 363/365 ; 621-623

Erscheinungsdatum:

01.01.2001

Format / Umfang:

3 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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