Amorphous-to-Crystalline Transformation of Thin ITO Films Studied by In-Situ Grazing Incidence X-Ray Diffractometry: Fid-Bau Portal

Amorphous-to-Crystalline Transformation of Thin ITO Films Studied by In-Situ Grazing Incidence X-Ray Diffractometry

Quaas, M. / Wulff, H. / Steffen, H. / Hippler, R.

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Titel:

Amorphous-to-Crystalline Transformation of Thin ITO Films Studied by In-Situ Grazing Incidence X-Ray Diffractometry

Beteiligte:

Quaas, M. (Autor:in) / Wulff, H. (Autor:in) / Steffen, H. (Autor:in) / Hippler, R. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 378/381 ; 320-325

Erscheinungsdatum:

01.01.2001

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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