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    Titel:

    High temperature phase and morphological changes of CVD-SiC films studied using in situ X-ray diffractometry

    Beteiligte:

    Kingetsu, T. (Autor:in) / Ito, K. (Autor:in) / Takehara, M. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MATERIALS LETTERS ; 36 ; 284-289

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1998

    Format / Umfang:

    6 pages

    ISSN:

    0167-577X

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.1105 / 530

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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