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Use of coherent X-ray diffraction to map strain fields in nanocrystals

Robinson, I. K. / Vartanyants, I. A.

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Titel:

Use of coherent X-ray diffraction to map strain fields in nanocrystals

Beteiligte:

Robinson, I. K. (Autor:in) / Vartanyants, I. A. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 182 ; 186-191

Erscheinungsdatum:

01.01.2001

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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