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    Titel:

    Transmission electron microscopy study of Ge implanted into SiC

    Beteiligte:

    Gorelik, T. (Autor:in) / Kaiser, U. (Autor:in) / Schubert, C. (Autor:in) / Wesch, W. (Autor:in) / Glatzel, U. (Autor:in)

    Erschienen in:

    JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH -PITTSBURGH- ; 17 ; 479-486

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2002

    Format / Umfang:

    8 pages

    ISSN:

    0884-2914

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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