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    Dokumentinformationen
    Titel:

    Transmission Electron Microscopy Investigation of Defects in B-Implanted 6H-SiC

    Beteiligte:

    Persson, P. O. A. (Autor:in) / Wahab, Q. (Autor:in) / Hultman, L. (Autor:in) / Nordell, N. (Autor:in) / Schoener, A. (Autor:in) / Rottner, K. (Autor:in) / Olsson, E. (Autor:in) / Linnarsson, M. K. (Autor:in) / Pensl, G. / Morkoc, H.

    Erschienen in:

    Silicon Carbide, III-Nitrides and Related Materials ; 413-416

    MATERIALS SCIENCE FORUM ; 264/268

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1998

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    0255-5476

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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