Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

    Anelastic spectroscopy as a probe for the structure and dynamics of defects in semiconductors

    Neue Suche nach: Palumbo, O.
    Neue Suche nach: Cordero, F.
    Neue Suche nach: Cantelli, R.
    Neue Suche nach: Trequattrini, F.
    Neue Suche nach: Molinas, B.
    Neue Suche nach: Guadalupi, G. M.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Anelastic spectroscopy as a probe for the structure and dynamics of defects in semiconductors

    Neue Suche nach: Palumbo, O.
    Neue Suche nach: Cordero, F.
    Neue Suche nach: Cantelli, R.
    Neue Suche nach: Trequattrini, F.
    Neue Suche nach: Molinas, B.
    Neue Suche nach: Guadalupi, G. M.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Anelastic spectroscopy as a probe for the structure and dynamics of defects in semiconductors

    Neue Suche nach: Palumbo, O.
    Neue Suche nach: Cordero, F.
    Neue Suche nach: Cantelli, R.
    Neue Suche nach: Trequattrini, F.
    Neue Suche nach: Molinas, B.
    Neue Suche nach: Guadalupi, G. M.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dokumentinformationen
    Titel:

    Anelastic spectroscopy as a probe for the structure and dynamics of defects in semiconductors

    Beteiligte:

    Palumbo, O. (Autor:in) / Cordero, F. (Autor:in) / Cantelli, R. (Autor:in) / Trequattrini, F. (Autor:in) / Molinas, B. (Autor:in) / Guadalupi, G. M. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B -LAUSANNE- ; 91-92 ; 498 - 502

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2002

    Format / Umfang:

    5 pages

    ISSN:

    0921-5107

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

    Ähnliche Titel

    Hydrogen trapping by defects in semiconductors studied by anelastic spectroscopy

    Palumbo, O. / Cantelli, R. / Cordero, F. | British Library Online Contents | 2004

    Anelastic spectroscopy as a probe of dynamic properties in lipid membranes

    Castellano, C. / Generosi, J. / Pozzi, D. et al. | British Library Online Contents | 2006

    Anelastic Spectroscopy in Superconducting Oxides

    Gimenez, J. M. A. / Grandini, C. R. / dos Santos, D. I. et al. | British Library Online Contents | 2005

    Anelastic Spectroscopy in TiO~2

    Grandini, C. R. / Oliveira, R. L. N. / Mota, R. P. et al. | British Library Online Contents | 2005

    Anelastic Spectroscopy in Al~2O~3

    Grandini, C. R. / Oliveira, R. L. N. / Mota, R. P. et al. | British Library Online Contents | 2005

    Nach oben