Structural characterization of InGaAs/InP heterostructures grown under compressive and tensile stress: Fid-Bau Portal

Structural characterization of InGaAs/InP heterostructures grown under compressive and tensile stress

Salviati, G. / Ferrari, C. / Lazzarini, L. / Nasi, L. / Drigo, A. V. / Berti, M. / De Salvador, D. / Natali, M. / Mazzer, M.

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Titel:

Structural characterization of InGaAs/InP heterostructures grown under compressive and tensile stress

Beteiligte:

Salviati, G. (Autor:in) / Ferrari, C. (Autor:in) / Lazzarini, L. (Autor:in) / Nasi, L. (Autor:in) / Drigo, A. V. (Autor:in) / Berti, M. (Autor:in) / De Salvador, D. (Autor:in) / Natali, M. (Autor:in) / Mazzer, M. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 188 ; 36-48

Erscheinungsdatum:

01.01.2002

Format / Umfang:

13 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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