Structural Defects in Electrically Degraded 4H-SiC PiN Diodes: Fid-Bau Portal

Structural Defects in Electrically Degraded 4H-SiC PiN Diodes

Persson, P. O. A. / Jacobson, H. / Molina-Aldareguia, J. M. / Bergman, J. P. / Tuomi, T. / Clegg, W. J. / Janzen, E. / Hultman, L.

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Titel:

Structural Defects in Electrically Degraded 4H-SiC PiN Diodes

Beteiligte:

Persson, P. O. A. (Autor:in) / Jacobson, H. (Autor:in) / Molina-Aldareguia, J. M. (Autor:in) / Bergman, J. P. (Autor:in) / Tuomi, T. (Autor:in) / Clegg, W. J. (Autor:in) / Janzen, E. (Autor:in) / Hultman, L. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 389/393 ; 423-426

Erscheinungsdatum:

01.01.2002

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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