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    Titel:

    HVEM/AFM Observation of Hinge-Type Plastic Zones Associated with Cracks in Silicon Crystals

    Beteiligte:

    Tanaka, M. (Autor:in) / Higashida, K. (Autor:in) / Kishikawa, T. (Autor:in) / Morikawa, T. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MATERIALS TRANSACTIONS ; 43 ; 2169-2172

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2002

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    1345-9678

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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