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HVEM Study of Crack Tip Dislocations in Silicon Crystals

Higashida, K. / Tanaka, M. / Onodera, R.

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Titel:

HVEM Study of Crack Tip Dislocations in Silicon Crystals

Beteiligte:

Higashida, K. (Autor:in) / Tanaka, M. (Autor:in) / Onodera, R. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 475/479 ; 4043-4046

Erscheinungsdatum:

01.01.2005

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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