Quantitative time-of-flight secondary ion mass spectrometry for the characterization of multicomponent adsorbed protein films: Fid-Bau Portal

Quantitative time-of-flight secondary ion mass spectrometry for the characterization of multicomponent adsorbed protein films

Wagner, M. S. / Shen, M. / Horbett, T. A. / Castner, D. G.

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Titel:

Quantitative time-of-flight secondary ion mass spectrometry for the characterization of multicomponent adsorbed protein films

Beteiligte:

Wagner, M. S. (Autor:in) / Shen, M. (Autor:in) / Horbett, T. A. (Autor:in) / Castner, D. G. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 203-204 ; 704-709

Erscheinungsdatum:

01.01.2003

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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