Structural characterization of various ionomers by time-of-flight secondary ion mass spectrometry: Fid-Bau Portal

Structural characterization of various ionomers by time-of-flight secondary ion mass spectrometry

Lee, Y. / Han, S. / Kwon, M. H. / Lim, H. / Kim, Y. S. / Chun, H. / Kim, J. S.

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Titel:

Structural characterization of various ionomers by time-of-flight secondary ion mass spectrometry

Beteiligte:

Lee, Y. (Autor:in) / Han, S. (Autor:in) / Kwon, M. H. (Autor:in) / Lim, H. (Autor:in) / Kim, Y. S. (Autor:in) / Chun, H. (Autor:in) / Kim, J. S. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 203-204 ; 875-879

Erscheinungsdatum:

01.01.2003

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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