Surface viscoelasticity studies of Gd2O3, SiO2 optical thin films and multilayers using force modulation and force-distance scanning probe microscopy: Fid-Bau Portal

Surface viscoelasticity studies of Gd2O3, SiO2 optical thin films and multilayers using force modulation and force-distance scanning probe microscopy

Sahoo, N. K. / Thakur, S. / Senthilkumar, M. / Das, N. C.

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Titel:

Surface viscoelasticity studies of Gd2O3, SiO2 optical thin films and multilayers using force modulation and force-distance scanning probe microscopy

Beteiligte:

Sahoo, N. K. (Autor:in) / Thakur, S. (Autor:in) / Senthilkumar, M. (Autor:in) / Das, N. C. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 206 ; 271-293

Erscheinungsdatum:

01.01.2003

Format / Umfang:

23 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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