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    Titel:

    Zn channeled implantation in GaN: damages investigated by using high resolution XTEM and channeling RBS

    Beteiligte:

    Ding, F. R. (Autor:in) / He, W. (Autor:in) / Vantomme, A. (Autor:in) / Zhao, Q. (Autor:in) / Pipeleers, B. (Autor:in) / Jacobs, K. (Autor:in) / Moerman, I. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B -LAUSANNE- ; 98 ; 70-73

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2003

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    0921-5107

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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