Investigation of SiC clean surface and Ni/SiC interface using scanning tunneling microscopy: Fid-Bau Portal

Investigation of SiC clean surface and Ni/SiC interface using scanning tunneling microscopy

Hattori, N. / Hirai, M. / Kusaka, M. / Iwami, M.

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Titel:

Investigation of SiC clean surface and Ni/SiC interface using scanning tunneling microscopy

Beteiligte:

Hattori, N. (Autor:in) / Hirai, M. (Autor:in) / Kusaka, M. (Autor:in) / Iwami, M. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 216 ; 54-58

Erscheinungsdatum:

01.01.2003

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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