Photoreflectance study of changes in the QW profile of 1.55-micrometer laser structure induced by SiO2 cap layers: Fid-Bau Portal

Photoreflectance study of changes in the QW profile of 1.55-micrometer laser structure induced by SiO2 cap layers

Kudrawiec, R. / Sek, G. / Rudno-Rudzinski, W. / Misiewicz, J. / Wojcik, J. / Robinson, B. J. / Thompson, D. A. / Mascher, P.

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Titel:

Photoreflectance study of changes in the QW profile of 1.55-micrometer laser structure induced by SiO2 cap layers

Beteiligte:

Kudrawiec, R. (Autor:in) / Sek, G. (Autor:in) / Rudno-Rudzinski, W. (Autor:in) / Misiewicz, J. (Autor:in) / Wojcik, J. (Autor:in) / Robinson, B. J. (Autor:in) / Thompson, D. A. (Autor:in) / Mascher, P. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B -LAUSANNE- ; 101 ; 232-235

Erscheinungsdatum:

01.01.2003

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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