Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

    Infrared spectroscopic ellipsometry of micrometer-sized SiO2 line gratings

    Neue Suche nach: Walder, Cordula
    Neue Suche nach: Zellmeier, Matthias
    Neue Suche nach: Rappich, Jörg
    Neue Suche nach: Ketelsen, Helge
    Neue Suche nach: Hinrichs, Karsten

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Infrared spectroscopic ellipsometry of micrometer-sized SiO2 line gratings

    Neue Suche nach: Walder, Cordula
    Neue Suche nach: Zellmeier, Matthias
    Neue Suche nach: Rappich, Jörg
    Neue Suche nach: Ketelsen, Helge
    Neue Suche nach: Hinrichs, Karsten

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Infrared spectroscopic ellipsometry of micrometer-sized SiO2 line gratings

    Neue Suche nach: Walder, Cordula
    Neue Suche nach: Zellmeier, Matthias
    Neue Suche nach: Rappich, Jörg
    Neue Suche nach: Ketelsen, Helge
    Neue Suche nach: Hinrichs, Karsten

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dokumentinformationen
    Titel:

    Infrared spectroscopic ellipsometry of micrometer-sized SiO2 line gratings

    Beteiligte:

    Walder, Cordula (Autor:in) / Zellmeier, Matthias (Autor:in) / Rappich, Jörg (Autor:in) / Ketelsen, Helge (Autor:in) / Hinrichs, Karsten (Autor:in)

    Erschienen in:

    Applied surface science ; 416 ; 397-401

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2017

    Format / Umfang:

    5 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.44

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

    Ähnliche Titel

    Spectroscopic ellipsometry on lamellar gratings

    Antos, R. / Ohlidal, I. / Mistrik, J. et al. | British Library Online Contents | 2005

    Spectroscopic ellipsometry on sinusoidal surface-relief gratings

    Antos, R. / Ohlidal, I. / Franta, D. et al. | British Library Online Contents | 2005

    Spectroscopic ellipsometry

    British Library Online Contents | 2005

    High‐Throughput Inertial Focusing of Micrometer‐ and Sub‐Micrometer‐Sized Particles Separation

    Wang, Lei / Dandy, David S. | Wiley | 2017

    Freier Zugriff

    Spectroscopic ellipsometry of SiO2/CdTe nanocomposite thin films prepared by dc magnetron sputtering

    Bera, S. K. / Bhattacharyya, D. / Ghosh, R. et al. | British Library Online Contents | 2009

    Nach oben