Effects of annealing processing on morphological, compositional and Schottky characterization of PtSi/Si diodes: Fid-Bau Portal

Effects of annealing processing on morphological, compositional and Schottky characterization of PtSi/Si diodes

Li, M. C. / Zhao, L. C. / Zhen, X. H. / Chen, X. K.

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Titel:

Effects of annealing processing on morphological, compositional and Schottky characterization of PtSi/Si diodes

Beteiligte:

Li, M. C. (Autor:in) / Zhao, L. C. (Autor:in) / Zhen, X. H. (Autor:in) / Chen, X. K. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS LETTERS ; 57 ; 3735-3740

Erscheinungsdatum:

01.01.2003

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0167-577X

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.1105 / 530

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