EPR Study of Electron Irradiation-Induced Defects in Semi-Insulating SiC:V: Fid-Bau Portal

EPR Study of Electron Irradiation-Induced Defects in Semi-Insulating SiC:V

von Bardeleben, H. J. / Cantin, J. L. / Reshanov, S. A. / Rastegaev, V. P.

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Titel:

EPR Study of Electron Irradiation-Induced Defects in Semi-Insulating SiC:V

Beteiligte:

von Bardeleben, H. J. (Autor:in) / Cantin, J. L. (Autor:in) / Reshanov, S. A. (Autor:in) / Rastegaev, V. P. (Autor:in) / Bergman, P. / Janzen, E.

Erschienen in:

Silicon Carbide and Related Materials 2002 ; 507-510

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 433/436

Erscheinungsdatum:

01.01.2003

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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