Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik
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Non-invasive electrical characterization of semiconductor interfaces
Non-invasive electrical characterization of semiconductor interfaces
Non-invasive electrical characterization of semiconductor interfaces
Vanderhaghen, R. (Autor:in) / Kasouit, S. (Autor:in) / Conde, J. P. (Autor:in) / Cho, H. M. (Autor:in) / Chu, V. (Autor:in) / Lee, Y. W. (Autor:in) / Kim, H. J. (Autor:in) / Kim, S. Y. (Autor:in) / Kleider, J. P. (Autor:in)
MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B -LAUSANNE- ; 102 ; 156-160
01.01.2003
5 pages
Aufsatz (Zeitschrift)
Englisch
DDC:
620.11
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