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    Titel:

    Comparison between post-irradiation annealing and post-high electric field stress annealing of n-channel power VDMOSFETs

    Beteiligte:

    Ristic, G. S. (Autor:in) / Pejovic, M. M. (Autor:in) / Jaksic, A. B. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 220 ; 181-185

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2003

    Format / Umfang:

    5 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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