Loss measurements of ER-doped silicon-on-insulator waveguides: Fid-Bau Portal

Loss measurements of ER-doped silicon-on-insulator waveguides

Gad, M. A. / Evans-Freeman, J. H. / Cinosi, N. / Sarma, J.

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Titel:

Loss measurements of ER-doped silicon-on-insulator waveguides

Beteiligte:

Gad, M. A. (Autor:in) / Evans-Freeman, J. H. (Autor:in) / Cinosi, N. (Autor:in) / Sarma, J. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B -LAUSANNE- ; 105 ; 78-81

Erscheinungsdatum:

01.01.2003

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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