Composition characterization of combinatorial materials by scanning X-ray fluorescence microscopy using microfocused synchrotron X-ray beam: Fid-Bau Portal

Composition characterization of combinatorial materials by scanning X-ray fluorescence microscopy using microfocused synchrotron X-ray beam

Vogt, S. / Chu, Y. S. / Tkachuk, A. / Ilinski, P. / Walko, D. A. / Tsui, F.

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Titel:

Composition characterization of combinatorial materials by scanning X-ray fluorescence microscopy using microfocused synchrotron X-ray beam

Beteiligte:

Vogt, S. (Autor:in) / Chu, Y. S. (Autor:in) / Tkachuk, A. (Autor:in) / Ilinski, P. (Autor:in) / Walko, D. A. (Autor:in) / Tsui, F. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 223 ; 214-219

Erscheinungsdatum:

01.01.2004

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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