TEM observations of microscopic inclusions in synthetic diamond: Fid-Bau Portal

TEM observations of microscopic inclusions in synthetic diamond

Langenhorst, F. / Poirier, J. P. / Frost, D. J.

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Titel:

TEM observations of microscopic inclusions in synthetic diamond

Beteiligte:

Langenhorst, F. (Autor:in) / Poirier, J. P. (Autor:in) / Frost, D. J. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE ; 39 ; 1865-1867

Erscheinungsdatum:

01.01.2004

Format / Umfang:

3 pages

ISSN:

0022-2461

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

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