Valence band offset of MgO/TiO2 (rutile) heterojunction measured by X-ray photoelectron spectroscopy: Fid-Bau Portal

Valence band offset of MgO/TiO2 (rutile) heterojunction measured by X-ray photoelectron spectroscopy

Zheng, G. / Wang, J. / Liu, X. / Yang, A. / Song, H. / Guo, Y. / Wei, H. / Jiao, C. / Yang, S. / Zhu, Q.

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Titel:

Valence band offset of MgO/TiO2 (rutile) heterojunction measured by X-ray photoelectron spectroscopy

Beteiligte:

Zheng, G. (Autor:in) / Wang, J. (Autor:in) / Liu, X. (Autor:in) / Yang, A. (Autor:in) / Song, H. (Autor:in) / Guo, Y. (Autor:in) / Wei, H. (Autor:in) / Jiao, C. (Autor:in) / Yang, S. (Autor:in) / Zhu, Q. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 256 ; 7327-7330

Erscheinungsdatum:

01.01.2010

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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