Static and Dynamic Characterization of 20A, 600V SiC MOS-Enhanced JFET: Fid-Bau Portal

Static and Dynamic Characterization of 20A, 600V SiC MOS-Enhanced JFET

Hanna, E. / Chang, H. R. / Radun, A. V. / Zhang, Q. / Gomez, M.

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Titel:

Static and Dynamic Characterization of 20A, 600V SiC MOS-Enhanced JFET

Beteiligte:

Hanna, E. (Autor:in) / Chang, H. R. (Autor:in) / Radun, A. V. (Autor:in) / Zhang, Q. (Autor:in) / Gomez, M. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 457/460 ; 1389-1392

Erscheinungsdatum:

01.01.2004

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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