Electrical Characteristics Temperature Dependence of 600V-Class Deep Implanted Gate Vertical JFET: Fid-Bau Portal

Electrical Characteristics Temperature Dependence of 600V-Class Deep Implanted Gate Vertical JFET

Mizukami, M. / Takikawa, O. / Imai, S. / Kinoshita, K. / Hatakeyama, T. / Domon, T. / Shinohe, T.

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Titel:

Electrical Characteristics Temperature Dependence of 600V-Class Deep Implanted Gate Vertical JFET

Beteiligte:

Mizukami, M. (Autor:in) / Takikawa, O. (Autor:in) / Imai, S. (Autor:in) / Kinoshita, K. (Autor:in) / Hatakeyama, T. (Autor:in) / Domon, T. (Autor:in) / Shinohe, T. (Autor:in) / Nipoti, R. / Poggi, A. / Scorzoni, A.

Erschienen in:

Silicon Carbide and Related Materials 2004 ; 881-884

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 483/485

Erscheinungsdatum:

01.01.2005

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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