Electrical and Optical Characterization of Electron Irradiated X Rays Detectors Based on 4H-SiC Epitaxial Layers: Fid-Bau Portal

Electrical and Optical Characterization of Electron Irradiated X Rays Detectors Based on 4H-SiC Epitaxial Layers

Le Donne, A. / Binetti, S. / Acciarri, M. / Castaldini, A. / Nava, F. / Cavallini, A. / Pizzini, S.

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Titel:

Electrical and Optical Characterization of Electron Irradiated X Rays Detectors Based on 4H-SiC Epitaxial Layers

Beteiligte:

Le Donne, A. (Autor:in) / Binetti, S. (Autor:in) / Acciarri, M. (Autor:in) / Castaldini, A. (Autor:in) / Nava, F. (Autor:in) / Cavallini, A. (Autor:in) / Pizzini, S. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 457/460 ; 1503-1506

Erscheinungsdatum:

01.01.2004

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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