ToF-SIMS imaging with cluster ion beams: Fid-Bau Portal

ToF-SIMS imaging with cluster ion beams

Xu, J. / Ostrowski, S. / Szakal, C. / Ewing, A. G. / Winograd, N.

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Titel:

ToF-SIMS imaging with cluster ion beams

Beteiligte:

Xu, J. (Autor:in) / Ostrowski, S. (Autor:in) / Szakal, C. (Autor:in) / Ewing, A. G. (Autor:in) / Winograd, N. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 231/232 ; 159-163

Erscheinungsdatum:

01.01.2004

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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