Non-Contact Measurement of Dielectric Constant for a Nanometer-Thick Polymer Film: Fid-Bau Portal

Non-Contact Measurement of Dielectric Constant for a Nanometer-Thick Polymer Film

Park, G. / Hur, Y. / Kim, J. H. / Kim, S. H. / Keum, S. R. / Koh, K.

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Titel:

Non-Contact Measurement of Dielectric Constant for a Nanometer-Thick Polymer Film

Beteiligte:

Park, G. (Autor:in) / Hur, Y. (Autor:in) / Kim, J. H. (Autor:in) / Kim, S. H. (Autor:in) / Keum, S. R. (Autor:in) / Koh, K. (Autor:in) / Lee, S.-S. / Yoon, D.-J. / Lee, J.-H. / Lee, S.

Erschienen in:

Advances in Nondestructive Evaluation Part 2 Proceedings of the 11^t^h Asian Pacific Conference on Nondestructive Testing, Jeju Island, Korea, 3-7 November 2003 ; 1143-1146

KEY ENGINEERING MATERIALS

Erscheinungsdatum:

01.01.2004

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

1013-9826

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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