Surface analyses of Zr (film)/4H-SiC (substrate) by synchrotron radiation induced-PEEM: Fid-Bau Portal

Surface analyses of Zr (film)/4H-SiC (substrate) by synchrotron radiation induced-PEEM

Kamezawa, C. / Hirai, M. / Kusaka, M. / Iwami, M. / Labis, J.

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Titel:

Surface analyses of Zr (film)/4H-SiC (substrate) by synchrotron radiation induced-PEEM

Beteiligte:

Kamezawa, C. (Autor:in) / Hirai, M. (Autor:in) / Kusaka, M. (Autor:in) / Iwami, M. (Autor:in) / Labis, J. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 237 ; 607-611

Erscheinungsdatum:

01.01.2004

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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