Characterization of 4H-SiC Epitaxial Layers by Microwave Photoconductivity Decay: Fid-Bau Portal

Characterization of 4H-SiC Epitaxial Layers by Microwave Photoconductivity Decay

Kumar, R. J. / Losee, P. A. / Li, C. / Seiler, J. / Bhat, I. B. / Chow, T. P. / Borrego, J. M. / Gutmann, R. J.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Characterization of 4H-SiC Epitaxial Layers by Microwave Photoconductivity Decay

Kumar, R. J. / Losee, P. A. / Li, C. / Seiler, J. / Bhat, I. B. / Chow, T. P. / Borrego, J. M. / Gutmann, R. J.

Characterization of 4H-SiC Epitaxial Layers by Microwave Photoconductivity Decay

Kumar, R. J. / Losee, P. A. / Li, C. / Seiler, J. / Bhat, I. B. / Chow, T. P. / Borrego, J. M. / Gutmann, R. J.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Dokumentinformationen

Titel:

Characterization of 4H-SiC Epitaxial Layers by Microwave Photoconductivity Decay

Beteiligte:

Kumar, R. J. (Autor:in) / Losee, P. A. (Autor:in) / Li, C. (Autor:in) / Seiler, J. (Autor:in) / Bhat, I. B. (Autor:in) / Chow, T. P. (Autor:in) / Borrego, J. M. (Autor:in) / Gutmann, R. J. (Autor:in) / Nipoti, R. / Poggi, A.

Erschienen in:

Silicon Carbide and Related Materials 2004 ; 405-408

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 483/485

Erscheinungsdatum:

01.01.2005

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

Ottaviani, L. / Palais, O. / Barakel, D. et al. | British Library Online Contents | 2009

Characterization of the Excess Carrier Lifetime of As-Grown and Electron Irradiated Epitaxial p-Type 4H-SiC Layers by the Microwave Photoconductivity Decay Method

Matsushita, Y. / Kato, M. / Ichimura, M. et al. | British Library Online Contents | 2010

Microwave photoconductivity techniques for the characterization of semiconductors

Citarella, G. / von Aichberger, S. / Kunst, M. | British Library Online Contents | 2002

Recombination lifetime characterization and mapping of silicon wafers and detectors using the microwave photoconductivity decay (mPCD) technique

Harkonen, J. / Tuovinen, E. / Li, Z. et al. | British Library Online Contents | 2006

Persistent Photoconductivity in Structures of Amorphous Layers

Vateva, E. | British Library Online Contents | 1992

Nach oben