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The Search for Near Interface Oxide Traps - First-Principles Calculations on Intrinsic SiO~2 Defects

Knaup, J. M. / Deak, P. / Gali, A. / Hajnal, Z. / Frauenheim, T. / Choyke, J. W.

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Titel:

The Search for Near Interface Oxide Traps - First-Principles Calculations on Intrinsic SiO~2 Defects

Beteiligte:

Knaup, J. M. (Autor:in) / Deak, P. (Autor:in) / Gali, A. (Autor:in) / Hajnal, Z. (Autor:in) / Frauenheim, T. (Autor:in) / Choyke, J. W. (Autor:in) / Nipoti, R. / Poggi, A. / Scorzoni, A.

Erschienen in:

Silicon Carbide and Related Materials 2004 ; 569-572

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 483/485

Erscheinungsdatum:

01.01.2005

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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