High-resolution TEM characterization of MOVPE-grown (111)-BP layer on hexagonal 6H (0001)-SiC: Fid-Bau Portal

High-resolution TEM characterization of MOVPE-grown (111)-BP layer on hexagonal 6H (0001)-SiC

Udagawa, T. / Odawara, M. / Shimaoka, G.

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Titel:

High-resolution TEM characterization of MOVPE-grown (111)-BP layer on hexagonal 6H (0001)-SiC

Beteiligte:

Udagawa, T. (Autor:in) / Odawara, M. (Autor:in) / Shimaoka, G. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 244 ; 285-288

Erscheinungsdatum:

01.01.2005

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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