Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

    Optical properties of rough LaNiO3 thin films studied by spectroscopic ellipsometry and reflectometry

    Neue Suche nach: Mistrik, J.
    Neue Suche nach: Yamaguchi, T.
    Neue Suche nach: Franta, D.
    Neue Suche nach: Ohlidal, I.
    Neue Suche nach: Hu, G. J.
    Neue Suche nach: Dai, N.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Optical properties of rough LaNiO3 thin films studied by spectroscopic ellipsometry and reflectometry

    Neue Suche nach: Mistrik, J.
    Neue Suche nach: Yamaguchi, T.
    Neue Suche nach: Franta, D.
    Neue Suche nach: Ohlidal, I.
    Neue Suche nach: Hu, G. J.
    Neue Suche nach: Dai, N.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Optical properties of rough LaNiO3 thin films studied by spectroscopic ellipsometry and reflectometry

    Neue Suche nach: Mistrik, J.
    Neue Suche nach: Yamaguchi, T.
    Neue Suche nach: Franta, D.
    Neue Suche nach: Ohlidal, I.
    Neue Suche nach: Hu, G. J.
    Neue Suche nach: Dai, N.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dokumentinformationen
    Titel:

    Optical properties of rough LaNiO3 thin films studied by spectroscopic ellipsometry and reflectometry

    Beteiligte:

    Mistrik, J. (Autor:in) / Yamaguchi, T. (Autor:in) / Franta, D. (Autor:in) / Ohlidal, I. (Autor:in) / Hu, G. J. (Autor:in) / Dai, N. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 244 ; 431-434

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2005

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

    Ähnliche Titel

    Optical properties of post-annealed ZnO:Al thin films studied by spectroscopic ellipsometry

    Hwang, Y.H. / Kim, H.M. / Um, Y.H. et al. | British Library Online Contents | 2012

    Albumin adsorption on oxide thin films studied by spectroscopic ellipsometry

    Silva-Bermudez, P. / Rodil, S. E. / Muhl, S. | British Library Online Contents | 2011

    Optical properties of Au–TiO2 and Au–SiO2 granular metal thin films studied by Spectroscopic Ellipsometry

    Bakkali, H. / Blanco, E. / Dominguez, M. et al. | British Library Online Contents | 2017

    Optical properties of Au–TiO2 and Au–SiO2 granular metal thin films studied by Spectroscopic Ellipsometry

    Bakkali, H. / Blanco, E. / Dominguez, M. et al. | British Library Online Contents | 2017

    Temperature dependence of Mn1.56Co0.96Ni0.48O4 thin films optical properties by spectroscopic ellipsometry

    Ma, C. / Wang, H. G. / Zhao, P. J. et al. | British Library Online Contents | 2014

    Nach oben