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Residual Stress Effects on Raman Spectra of RuO~2 Thin Films

Meng, L. J. / Silva, R. / Cui, H. N. / Teixeira, V. / dos Santos, M. P.

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Titel:

Residual Stress Effects on Raman Spectra of RuO~2 Thin Films

Beteiligte:

Meng, L. J. (Autor:in) / Silva, R. (Autor:in) / Cui, H. N. (Autor:in) / Teixeira, V. (Autor:in) / dos Santos, M. P. (Autor:in) / Denis, S. / Hanabusa, T. / He, B. / Mittemeijer, E. / Nan, J.

Erschienen in:

Residual Stresses VII ICRS 7 Proceedings of the 7^t^h International Conference on Residual Stresses, ICRS-7 Xi'an, China, 14-17 June 2004 ; 583-588

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 490/491

Erscheinungsdatum:

01.01.2005

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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