Growth and Characterization of AIBN Polycrystalline Thin Film by Radio-Frequency Plasma-Assisted Molecular Beam Epitaxy: Fid-Bau Portal

Growth and Characterization of AIBN Polycrystalline Thin Film by Radio-Frequency Plasma-Assisted Molecular Beam Epitaxy

Yamashita, M. / Ishikawa, Y. / Ohsato, H. / Shibata, N.

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Titel:

Growth and Characterization of AIBN Polycrystalline Thin Film by Radio-Frequency Plasma-Assisted Molecular Beam Epitaxy

Beteiligte:

Yamashita, M. (Autor:in) / Ishikawa, Y. (Autor:in) / Ohsato, H. (Autor:in) / Shibata, N. (Autor:in)

Erschienen in:

KEY ENGINEERING MATERIALS ; 301 ; 95-98

Erscheinungsdatum:

01.01.2006

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

1013-9826

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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