Characterization of a SiC/SiC composite by X-ray diffraction, atomic force microscopy and positron spectroscopies: Fid-Bau Portal

Characterization of a SiC/SiC composite by X-ray diffraction, atomic force microscopy and positron spectroscopies

Brauer, G. / Anwand, W. / Eichhorn, F. / Skorupa, W. / Hofer, C. / Teichert, C. / Kuriplach, J. / Cizek, J. / Prochazka, I. / Coleman, P. G.

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Titel:

Characterization of a SiC/SiC composite by X-ray diffraction, atomic force microscopy and positron spectroscopies

Beteiligte:

Brauer, G. (Autor:in) / Anwand, W. (Autor:in) / Eichhorn, F. (Autor:in) / Skorupa, W. (Autor:in) / Hofer, C. (Autor:in) / Teichert, C. (Autor:in) / Kuriplach, J. (Autor:in) / Cizek, J. (Autor:in) / Prochazka, I. (Autor:in) / Coleman, P. G. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 252 ; 3342-3351

Erscheinungsdatum:

01.01.2006

Format / Umfang:

10 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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